симеизского оптоволоконного спектрографа SiSpec

Для оптоволоконного спектрографа высокого разрешения SiSpec Симеизской обсерватории ИНАСАН изготовлена новая дифракционная эшелле-решётка на ситалловой подложке, с целью повышения стабильности спектрографа. Решётка изготовлена производителем спектрографа САО РАН, в Санкт-Петербургском филиале, в кооперации с лабораторией дифракционной оптики ИТМО. Для изготовления этой эшелле-решётки, на заводе ЛенЗОС была специально сварена партия высококачественного ситалла СО-115М. Фотография отполированных ситалловых заготовок показана на рисунке 1. Новая эшелле-решётка представляет собой реплику с параметрами:

• Тип дифракционной решётки - R4.
• Тангенс угла блеска Θв - 76°.
• Плотность штихов - 37.5штр./мм.
• Размер рабочей поверхности – 420х110 мм.

 Фотография изготовленной решётки в транспортировочном ящике показана на рисунке 2. Весной этого года планируется установка новой решётки в спектрограф SiSpec.